Monticone, Francesco ; Mortensen, N. Asger ; Fernández-Domínguez, Antonio I. ; Luo, Yu ; Zheng, Xuezhi ; Tserkezis, Christos ; Khurgin, Jacob B. ; Shahbazyan, Tigran V. ; Chaves, André J. ; Peres, Nuno M.R. ; Wegner, Gino ; Busch, Kurt ; Hu, Huatian ; della Sala, Fabio ; Zhang, Pu ; Ciracì, Cristian ; Aizpurua, Javier ; Babaze, Antton ; Borisov, Andrei G. ; Chen, Xue Wen ; Christensen, Thomas ; Yan, Wei ; Yang, Yi ; Hohenester, Ulrich ; Huber, Lorenz ; Wubs, Martijn ; de Liberato, Simone ; Gonçalves, P. A.D. ; de Abajo, F. Javier García ; Hess, Ortwin ; Tarasenko, Illya ; Cox, Joel D. ; Jelver, Line ; Dias, Eduardo J.C. ; Sánchez, Miguel Sánchez ; Margetis, Dionisios ; Gómez-Santos, Guillermo ; Vasilevskiy, Igor M. ; Stauber, Tobias ; Tretyakov, Sergei ; Simovski, Constantin ; Pakniyat, Samaneh ; Gómez-Díaz, J. Sebastián ; Bondarev, Igor V. ; Biehs, Svend Age ; Boltasseva, Alexandra ; Shalaev, Vladimir M. ; Krasavin, Alexey V. ; Zayats, Anatoly V. ; Alù, Andrea ; Song, Jung Hwan ; Brongersma, Mark L. ; Levy, Uriel ; Long, Olivia Y. ; Guo, Cheng ; Fan, Shanhui ; Bozhevolnyi, Sergey I. ; Overvig, Adam ; Prudêncio, Filipa R. ; Silveirinha, Mário G. ; Gangaraj, S. Ali Hassani ; Argyropoulos, Christos ; Huidobro, Paloma A. ; Galiffi, Emanuele ; Yang, Fan ; Pendry, John B. ; Miller, David A.B.
in: Optical Materials Express, vol: 15, issue: 7, pages: 1544-1709
Type: Journal article (Peer reviewed)
Status:
Published
| Year:
2025
| DOI:
https://doi.org/10.1364/ome.559374